探討原子力顯微鏡與細(xì)胞固定技術(shù)

　　原子力顯微鏡在研究細(xì)菌吸附時，使用了多種固定細(xì)菌細(xì)胞的方法。根據(jù)細(xì)菌固定的位置，可將固定方法分為兩類：一是細(xì)胞固定在支持物上，探針可以是氮化硅或硅探針，抑或是膠結(jié)有微米尺寸珠子的微懸臂，由于制作均質(zhì)性探針受到材料的限制，因此研究細(xì)菌與不同固相界面間的相互作用也將受到制約；二是細(xì)胞固定在探針上，即細(xì)胞探針，此種固定方法彌補(bǔ)了前面一種方法的不足，可用于探究細(xì)胞探針與任何感興趣的固相表面間的相互作用，但該技術(shù)的缺陷是細(xì)胞探針表面較大，成像的分辨率低，力測定值是探針與研究表面間微米水平接觸區(qū)域的力效應(yīng)的平均值，且很難獲得準(zhǔn)確的探針半徑及細(xì)胞或胞外大分子的取向。另外，兩類細(xì)胞固定技術(shù)都需要保持細(xì)胞的自然狀態(tài)，且細(xì)胞固定力大于細(xì)胞與界面間作用力。